IC測試座
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產(chǎn)品價格¥50.00元/個
產(chǎn)品品牌ANDK
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更新日期2019-02-20 15:07
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企業(yè)二維碼: 企業(yè)名稱加二維碼
品牌: |
ANDK |
所在地: |
廣東 |
起訂: |
≥1 個 |
供貨總量: |
100 個 |
有效期至: |
長期有效 |
生產(chǎn)廠家: |
鴻怡電子 |
5.0*3.2-4PIN晶振探針老化座
產(chǎn)品簡介
A、產(chǎn)品用途:老化座、測試座,對5032(5.0*3.2)的晶振進行高低溫老化測試
B、適用封裝: 5032(5.0*3.2)-4PIN晶振
C、探針結構,接觸更穩(wěn)定、體積小。
D、采用特殊的工程塑膠,強度高、壽命長、絕緣性好
E、鍍金層加厚,觸點加厚電鍍,超低接觸阻抗、高可靠度,使用壽命(翻蓋結構20000次)
F、我司可提供規(guī)格書(布板圖)資料,PDF檔\CAD檔
規(guī)格尺寸
A、型號: 5032(5.0×3.2mm)-4PIN
B、腳位:4
C、芯片尺寸:5.0×3.2mm
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