深圳市德諾嘉電子有限公司

芯片封裝測(cè)試座

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工廠直銷5032-4PIN晶振探針老化座

產(chǎn)品價(jià)格￥100.00元/件

產(chǎn)品品牌ANDK

最小起訂≥1 件

供貨總量1000 件

發(fā)貨期限自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨

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更新日期2019-12-23 16:36

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聯(lián) 系人：唐各威(先生)

電子郵箱：[email protected]

聯(lián)系固話：13826578242

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商品信息

基本參數(shù)

品牌：	ANDK
所在地：	廣東深圳市
起訂：	≥1 件
供貨總量：	1000 件
有效期至：	長期有效
PIN：	4
芯片尺寸：	5.0*3.2
測(cè)試座類型：	翻蓋式

詳細(xì)說明

5.0*3.2-4PIN晶振探針老化座

產(chǎn)品簡介

A、產(chǎn)品用途:老化座、測(cè)試座，對(duì)5032（5.0*3.2）的IC芯片進(jìn)行高低溫老化測(cè)試

B、適用封裝: 5032（5.0*3.2）-4PIN晶振探針老化座

C、采用雙觸點(diǎn)技術(shù)，接觸更穩(wěn)定、體積小。

D、采用特殊的工程塑膠，強(qiáng)度高、壽命長、阻抗小、彈性好

E、鍍金層加厚，觸點(diǎn)加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命（翻蓋結(jié)構(gòu)20000次）

F、我司可提供規(guī)格書（布板圖）資料，PDF檔\CAD

規(guī)格尺寸

A、型號(hào): 5032（5.0*3.2）-4PIN

B、腳位:4

C、芯片尺寸:5.0*3.2

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