芯片封裝測試座
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產(chǎn)品價格¥100.00元/件
產(chǎn)品品牌ANDK
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更新日期2019-12-23 16:36
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聯(lián)系地址:寶安區(qū)西鄉(xiāng)街道勞動社區(qū)圣淘沙駿園3A1103
品牌: |
ANDK |
所在地: |
廣東 深圳市 |
起訂: |
≥1 件 |
供貨總量: |
1000 件 |
有效期至: |
長期有效 |
PIN: |
4 |
芯片尺寸: |
2.0*1.6 |
測試座類型: |
翻蓋式 |
2.0*1.6-4PIN晶振探針老化座
產(chǎn)品簡介
A、產(chǎn)品用途:老化座、測試座,對2016(2.0*1.6)的IC芯片進行高低溫老化測試
B、適用封裝: 2016(2.0*1.6)-4PIN晶振探針老化座
C、采用雙觸點技術(shù),接觸更穩(wěn)定、體積小。
D、采用特殊的工程塑膠,強度高、壽命長、阻抗小、彈性好
E、鍍金層加厚,觸點加厚電鍍,超低接觸阻抗、高可靠度,使用壽命(翻蓋結(jié)構(gòu)20000次)
F、我司可提供規(guī)格書(布板圖)資料,PDF檔\CAD
規(guī)格尺寸
A、型號: 2016(2.0*1.6)-4PIN
B、腳位:4
C、芯片尺寸:2.0*1.6
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